視覺檢 測設(shè)備缺點(diǎn)（中）

環(huán)境適應(yīng)性不足

   光線變化 敏 感：視覺檢 測設(shè)備對光線條件的要求較高，光線過強(qiáng)或過弱、光線不均勻等都會(huì)影響圖像質(zhì)量和檢 測結(jié)果。例如在戶外環(huán)境中，隨著時(shí)間和天氣的變化，光線強(qiáng)度和角度不斷改變，可能導(dǎo)致設(shè)備無法穩(wěn)定地工作 。

   溫度濕度影響：環(huán)境的溫度和濕度變化也可能對設(shè)備的性能產(chǎn)生影響。高溫可能導(dǎo)致電子元件性能下降、圖像噪聲增加；高濕度則可能使鏡頭起霧、設(shè)備內(nèi)部受潮，進(jìn)而影響設(shè)備的正常運(yùn)行.

   電磁干擾問題：在一些工業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場或電磁環(huán)境復(fù)雜的場所，電磁干擾可能會(huì)影響視覺檢 測設(shè)備的正常工作，導(dǎo)致圖像數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤或設(shè)備死機(jī)等問題.

數(shù)據(jù)集限制

   數(shù)據(jù)不全 面：視覺檢 測設(shè)備依賴大量的數(shù)據(jù)集來進(jìn)行訓(xùn)練和調(diào)試，但目前的數(shù)據(jù)集往往難以涵蓋所有可能的目標(biāo)和場景。這就導(dǎo)致設(shè)備在面對一些未在數(shù)據(jù)集中出現(xiàn)過的新情況時(shí)，檢 測效 果可能不理想.

   數(shù)據(jù)標(biāo)注成本高：為了獲得高質(zhì)量的數(shù)據(jù)集，需要對大量的圖像進(jìn)行人工標(biāo)注，這是一個(gè)耗時(shí)費(fèi)力且成本較高的過程。而且，標(biāo)注的準(zhǔn)確性也會(huì)直接影響到設(shè)備的檢 測精度。